光谱分析仪

光谱分析仪

成分分析

快速材料成分分析设备,可准确检测金属材料的化学成分含量 采用先进X射线荧光(XRF)技术,无需样品制备,5-30秒内准确测定金属中30+种元素含量,精度达ppm级,轻松识别合金牌号与微量杂质。

技术参数
检测时间: 5-30秒 检测精度: ±0.01% 元素范围: C-U 样品要求: 固体金属

采用先进光谱技术,实现快速无损检测,广泛应用于金属材料分析。

检测元素:

  • 铁基合金 (Fe、C、Si、Mn等)
  • 铝基合金 (Al、Cu、Mg、Zn等)
  • 铜基合金 (Cu、Sn、Pb、Ni等)
  • 其他金属元素

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